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便攜式硬度檢測(cè)儀的 Equotip 隆重推出使用單一加載釋放機(jī)制磚利技術(shù)的全新Equotip
Piccolo 2 / Bambino 2
監(jiān)測(cè)金屬硬度
金屬在轉(zhuǎn)換為*終產(chǎn)品前要經(jīng)過(guò)不同工藝的處理。每道工藝都會(huì)對(duì)金屬的機(jī)械和化學(xué)性質(zhì)產(chǎn)生影響。例如,鋼的強(qiáng)度由其化學(xué)成分和微結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)變確定。宏觀變量用于控制*終產(chǎn)品質(zhì)量。硬度是較易監(jiān)測(cè)的的一個(gè)金屬特征。1975
年,Proceq 發(fā)明了性的便攜式金屬硬度檢測(cè)儀“Equotip”。早已成為業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)的里氏原理也由 Proceq
發(fā)明,使測(cè)量金屬硬度變得非常簡(jiǎn)單。現(xiàn)在,Equotip Piccolo 2 / Bambino 2 繼續(xù)發(fā)揚(yáng)了 Proceq 制造上等產(chǎn)品的傳統(tǒng)。
Piccolo 2 和 Bambino 2 的區(qū)別
Equotip Piccolo 2 和 Bambino 2 都適用于在現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)金屬硬度,且檢測(cè)壓痕盡可能小。可靠的設(shè)計(jì)和大顯示屏允許用戶在
可見(jiàn)性很低的粉塵工作環(huán)境中使用。兩種產(chǎn)品還能夠以所有常用標(biāo)度顯示金屬硬度。
Piccolo 2 的功能除與 Bambino 2 相同外,還具有下列更多功能:
1) 用戶定義的硬度轉(zhuǎn)換
2) 具有下列應(yīng)用的 Piccolink 軟件:
a) 系統(tǒng)化實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)硬度
b) 在連續(xù)生產(chǎn)過(guò)程中自動(dòng)測(cè)試
c) 評(píng)估和處理測(cè)量數(shù)據(jù)
d) 遙控 Piccolo 2 設(shè)置
Equotip Piccolo 2 和 Bambino 2 附帶有 D 型沖擊裝置。此沖擊裝置可與可選的 DL 沖擊裝置互換,對(duì)于受限區(qū)域中的測(cè)量非常有用。
Equotip 硬度檢測(cè)儀的里氏回彈原理
常用于金屬的便攜式硬度檢測(cè)儀基于 Proceq SA 發(fā)明的里氏回彈法。Equotip Piccolo 2 / Bambino 2
按里氏原理進(jìn)行操作,其中的硬度值是用在樣品上進(jìn)行沖擊前后的沖擊體的能量之比計(jì)算出來(lái)的。此能量指數(shù)(EQUO) 以硬度單位 HL
表示,用沖擊體的沖擊速度和回彈速度(vi、vr)之比計(jì)算出來(lái)。沖擊體在較硬樣品上的回彈速度比在較軟樣品上要快,從而得出更大的能量指數(shù),
金屬硬度可通過(guò)不同的標(biāo)度顯示:HLD(里氏)、HRC(洛氏)、HB(布氏)、HV(維氏)等。使用 Piccolo 2 /Bambino 2
獨(dú)特且獲得磚利的單一加載釋放機(jī)制,可通過(guò)任何選定的硬度標(biāo)度來(lái)獲取和顯示硬度測(cè)量值。
Equotip Piccolo 2 具有一個(gè)額外的功能,允許用戶為特殊合金自定義轉(zhuǎn)換曲線,還允許用戶將硬度讀數(shù)轉(zhuǎn)換為抗張強(qiáng)度。
沖擊裝置 DL - 這是 Proceq 一家提供的功能。它允許用戶使用 Piccolo 2 / Bambino 2 快速簡(jiǎn)便地互換 D 和 DL 沖擊裝置。
測(cè)試塊 - 在參考硬度對(duì)象上定期執(zhí)行 3 到 10 次的測(cè)試沖擊是很有必要,這可用于驗(yàn)證Equotip
儀器能否正確操作。根據(jù)用戶的硬度要求,可使用各種測(cè)試塊。為了更加方便,測(cè)試塊還以不同標(biāo)度指示出參考硬度值。
支撐環(huán) -
里氏回彈檢測(cè)儀僅當(dāng)沖擊體在沖擊過(guò)程中距測(cè)試表面適當(dāng)距離時(shí)才能正確工作。多種型號(hào)的支撐環(huán)允許在各種形狀的目標(biāo)上進(jìn)行測(cè)試,即平面、凹面或凸起柱面、球形測(cè)試表面等。
瑞士Equotip Bambino 2 筆式里氏硬度計(jì)
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使用 D 型沖擊裝置 |
使用 DL 型沖擊裝置 |
測(cè)量范圍 |
150-950 HLD |
250-970 HLDL |
儀器尺寸 |
147.5 x 44 x 20 毫米 |
203 x 44 x 20 毫米 |
儀器重量 |
142 克 |
152 克 |
轉(zhuǎn)換 |
80-955 HV、81-678
HB、20-70 HRC、38-102
HRB、30-100 HS |
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分辨率 |
1 HLD / HLDL、1 HV、1 HB;0.1 HRC、0.1 HRB、0.1 HS(** Equotip Piccolo 2:1 N/mm2 Rm) |
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測(cè)量精度 |
± 4 HLD / HLDL(800 HLD / HLDL 時(shí)為 0.5%) |
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zui大檢測(cè)硬度 |
890 HLD (955 HV, 68 HRC) |
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沖擊方向/能量 |
自動(dòng)補(bǔ)償 / 11 Nmm |
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球壓頭 |
碳化鎢(約 1’500 HV),~ 3 毫米 |
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外殼 |
防刮硬質(zhì)鋅合金 |
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電池 |
可充電鋰電池,能夠執(zhí)行 2 萬(wàn)多次沖擊,充電電流 100 mA |
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集成存儲(chǔ)器 |
非易失性 RAM,32 kB,可存儲(chǔ)約 2000 個(gè)測(cè)量值(** Equotip Piccolo 2) |
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操作條件 |
溫度:-10 至 +60 °C(14 至 140 °F);濕度:*高 90% |
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IP 等級(jí) |
IP52 |
瑞士Equotip Bambino 2 筆式里氏硬度計(jì)訂購(gòu)信息
部件號(hào) | 說(shuō)明 |
352 10 001 |
Equotip Piccolo 2 硬度檢測(cè)儀 D 型 Equotip Piccolo 2 儀器,配有 D 型沖擊體、大 (D6) 小 (D6a) 支撐環(huán)、清潔刷、USB 充電器和電纜、便攜箱、Proceq 頸帶/腕帶(吊繩)、Equotip 產(chǎn)品 CD(包括操作說(shuō)明和固件升級(jí)說(shuō)明)、產(chǎn)品證書(shū)以及 Piccolink 軟件 |
352 20 001 |
Equotip Bambino 2 硬度檢測(cè)儀 D 型 Equotip Bambino 2 儀器,配有 D 型沖擊體、大 (D6) 小 (D6a) 支撐環(huán)、清潔刷、USB 充電器和電纜、便攜箱、Proceq 頸帶/腕帶(吊繩)、Equotip 產(chǎn)品 CD(包括操作說(shuō)明和固件升級(jí)說(shuō)明)、產(chǎn)品證書(shū) |
352 10 002 |
Equotip Piccolo 2 硬度檢測(cè)儀 D 型,配有 Proceq 測(cè)試塊 D Equotip Piccolo 2 儀器,配有 D 型沖擊體、大 (D6) 小 (D6a) 支撐環(huán)、清潔刷、USB 充電器和電纜、便攜箱、Proceq 頸帶/腕帶(吊繩)、Equotip 產(chǎn)品 CD(包括操作說(shuō)明和固件升級(jí)說(shuō)明)、產(chǎn)品證書(shū)Piccolink 軟件,以及帶有證書(shū)的 Equotip 測(cè)試塊 D/DC 且經(jīng) Proceq 校準(zhǔn) (~775HLD/~630HV/~56HRC) |
352 20 002 |
Equotip Bambino 2 硬度檢測(cè)儀 D 型,配有 Proceq 測(cè)試塊 D Equotip Bambino 2 儀器,配有 D 型沖擊體、大 (D6) 小 (D6a) 支撐環(huán)、清潔刷、USB 充電器和電纜、便攜箱、Proceq 頸帶/腕帶(吊繩)、Equotip 產(chǎn)品 CD(包括操作說(shuō)明和固件升級(jí)說(shuō)明)、產(chǎn)品證書(shū),以及帶有證書(shū)的 Equotip 測(cè)試塊 D/DC 且經(jīng) Proceq 校準(zhǔn) (~775HLD/~630HV/~56HRC) |
附件
352 95 021 | Equotip DL 附件工具包 |
350 01 015 | Equotip 耦合劑 |
測(cè)試塊 | |
357 11 100 | Equotip 測(cè)試塊 D/DC,經(jīng) Proceq 校準(zhǔn)(<500HLD/<225HV/<220HB) |
357 12 100 | Equotip 測(cè)試塊 D/DC,經(jīng) Proceq 校準(zhǔn)(~600HLD/~335HV/~325HB/~35HRC) |
357 13 100 | Equotip 測(cè)試塊 D/DC,經(jīng) Proceq 校準(zhǔn)(~775HLD/~630HV/~56HRC) |
357 11 120 | Equotip 測(cè)試塊 DL,經(jīng) Proceq 校準(zhǔn)(<710HLDL/<225HV/<220HB) |
357 12 120 | Equotip 測(cè)試塊 DL,經(jīng) Proceq 校準(zhǔn)(~780HLDL/~335HV/~325HB/~35HRC) |
357 13 120 | Equotip 測(cè)試塊 DL,經(jīng) Proceq 校準(zhǔn)(~890HLDL/~630HV/~56HRC) |
357 10 109 | Equotip 測(cè)試塊插入式校準(zhǔn) D/DC |
357 10 129 | Equotip 測(cè)試塊插入式校準(zhǔn) DL |
支撐環(huán) | |
350 03 000 | Equotip 支撐環(huán)組(12 件裝)適用于 D/DC/C/E/D+15 |
350 03 001 | Equotip 支撐環(huán) Z 10-15 |
350 03 002 | Equotip 支撐環(huán) Z 14.5-30 |
350 03 003 | Equotip 支撐環(huán) Z 25-50 |
350 03 004 | Equotip 支撐環(huán) HZ 11-13 |
350 03 005 | Equotip 支撐環(huán) HZ 12.5-17 |
350 03 006 | Equotip 支撐環(huán) HZ 16.5-30 |
350 03 007 | Equotip 支撐環(huán) K 10-15 |
350 03 008 | Equotip 支撐環(huán) K 14.5-30 |
350 03 009 | Equotip 支撐環(huán) HK 11-13 |
350 03 010 | Equotip 支撐環(huán) HK 12.5-17 |
350 03 011 | Equotip 支撐環(huán) HK 16.5-30 |
350 03 012 | Equotip 支撐環(huán) UN |
保修
標(biāo)準(zhǔn)保修 主機(jī):24 個(gè)月
機(jī)械和電機(jī)零件和附件:6 個(gè)月
延長(zhǎng)保修 購(gòu)買 Equotip Piccolo 2 / Bambino 2 儀器時(shí),*長(zhǎng)可為主機(jī)購(gòu)買 36 個(gè)月的延長(zhǎng)保修。延長(zhǎng)保修服務(wù)必須在購(gòu)買時(shí)或購(gòu)買之日起
90 天內(nèi)購(gòu)買。
適用標(biāo)準(zhǔn)和法規(guī)
ASTM A 956, ASTM E 140, ASTM A 370, ISO 16859, DIN 50156, GB/T 17394 JB/T
9378, ASME CRTD-91, DGZfP Guideline MC 1, VDI / VDE Guideline 2616 Paper 1,
Nordtest Technical Reports 424-1, 424-2, 424-3