奧林巴斯Olympus OmniScan SX相控陣探傷儀

奧林巴斯Olympus不無自豪地為廣大用戶推出了*新研制的OmniScan® SX，這是一款積累了20多年探索相控陣技術(shù)的經(jīng)驗(yàn)，體現(xiàn)了OmniScan精華的探傷儀。為了更加方便地使用儀器，OmniScan SX在其8.4英寸觸摸屏上使用了合理簡化的新型軟件界面。OmniScan SX是一款單組無模塊儀器，針對(duì)檢測要求較低的應(yīng)用，這款儀器操作十分方便，性價(jià)比高。

奧林巴斯Olympus OmniScan SX相控陣探傷儀觸摸屏配有全屏模式選項(xiàng)，更為清晰，用戶僅需在觸摸屏上進(jìn)行簡單操作，便可訪問許多菜單功能。直觀的界面使用戶可以流暢地進(jìn)行菜單選擇，縮放，閘門調(diào)節(jié)，光標(biāo)移動(dòng)以及文本和數(shù)字的輸入。以上這些特性，加上其它附加的集成功能，包括淺顯易懂的設(shè)置和校準(zhǔn)向?qū)В附莸腟掃描和A掃描顯示更新率，和快速的脈沖重復(fù)頻率（PRF），使OmniScan SX成為一款高效的檢測工具。

OmniScan SX相控陣探傷儀能與Olympus數(shù)量龐大的掃查器、探頭和附件產(chǎn)品，及其專門的配備軟件NDT SetupBuilder和OmniPC完全兼容。硬件和軟件產(chǎn)品的完整結(jié)合，使檢測流程從設(shè)計(jì)、設(shè)置到采集、分析變得精簡有效。

新款OmniScan軟件增強(qiáng)了焊縫和腐蝕檢測應(yīng)用方面的功用和性能。
為了達(dá)到持續(xù)完善的目標(biāo)，軟件的界面得到簡化，反應(yīng)時(shí)間得到優(yōu)化，從而可使用戶盡可能體驗(yàn)到*佳的檢測操作過程。

奧林巴斯Olympus OmniScan SX相控陣探傷儀新添功能如下：
導(dǎo)出C掃描
帶有組融合功能的新型端視圖
交錯(cuò)功能
分析模式下的衰減增益
滾動(dòng)布局，方便了判讀過程
提供更多交互式菜單，提高了訪問能力
得到了優(yōu)化的主菜單和向?qū)?br> 機(jī)載復(fù)合扇掃功能
用于縱向焊縫檢測的曲面幾何形狀聲線跟蹤

OmniScan產(chǎn)品系列設(shè)計(jì)
NDT SetupBuilder設(shè)計(jì)軟件是Olympus自動(dòng)和半自動(dòng)超聲檢測產(chǎn)品系列的一個(gè)不可缺少的組成部分。NDT監(jiān)控人員可以使用NDT SetupBuilder軟件模擬檢測方案，以確定所需使用的適當(dāng)?shù)穆暿鴶?shù)量和聲束角度。模擬配置可被導(dǎo)入到OmniScan，從而可減少配置時(shí)間和操作錯(cuò)誤。

Olympus解決方案
在過去的幾年中，為滿足客戶的需求，Olympus投入了大量精力創(chuàng)建了各種完整的解決方案，并將這些方案投放到市場、付諸實(shí)踐。

OmniScan SX探傷儀具有完成手動(dòng)和自動(dòng)探傷應(yīng)用的強(qiáng)大檢測性能。這些探傷儀可以與各種探頭、掃查器和附件配套使用，從而使Olympus成為為石油化工、航空航天及其它工業(yè)領(lǐng)域提供無損探傷解決方案的優(yōu)選企業(yè)。

數(shù)據(jù)分析和報(bào)告制作OmniPC
OmniPC軟件帶有與OmniScan機(jī)載軟件相同的分析和報(bào)告工具，是用于基于PC機(jī)的OmniScan數(shù)據(jù)分析的*為經(jīng)濟(jì)有效的選購項(xiàng)目。

TomoView 2.10帶有上等數(shù)據(jù)處理、分析和報(bào)告工具，可以幫助用戶從檢測數(shù)據(jù)中獲得有關(guān)被檢材料的更為詳細(xì)的信息。

TomoView的優(yōu)異性能如下：
體積融合，可進(jìn)行多組數(shù)據(jù)顯示。
C掃描融合，用于表現(xiàn)組合數(shù)據(jù)。
信噪比（SNR）分析和優(yōu)化工具。
上等離線數(shù)據(jù)生成工具。

奧林巴斯Olympus OmniScan SX相控陣探傷儀設(shè)置
可以在NDT SetupBuilder中為檢測進(jìn)行設(shè)置，然后再通過SD卡或USB鑰匙，將設(shè)置直接導(dǎo)入到OmniScan SX儀器。進(jìn)行采集之前，只需在儀器中進(jìn)行幾項(xiàng)基本操作，如：設(shè)置閘門和范圍。由于OmniScan SX具有以下幾個(gè)特性，用戶也可以在儀器中非常方便地創(chuàng)建設(shè)置：
自動(dòng)探頭識(shí)別
單步驟、預(yù)先配置應(yīng)用的向?qū)?br> 焊縫覆蓋與聲線跟蹤模擬

奧林巴斯Olympus OmniScan SX相控陣探傷儀校準(zhǔn)
為完成一項(xiàng)符合規(guī)范的檢測，儀器中的校準(zhǔn)向?qū)Э梢员ＷC每組中的每個(gè)聚焦法則都直接等同于一個(gè)單通道常規(guī)探傷儀。用戶在完成所要求的校準(zhǔn)過程中，會(huì)得到向?qū)У姆植街笇?dǎo)。所校準(zhǔn)的項(xiàng)目包括聲速、楔塊延遲、靈敏度、TCG、DAC、AWS及編碼器。現(xiàn)在，儀器可以自動(dòng)完成TOFD PCS校準(zhǔn)與直通波矯直的操作。

奧林巴斯Olympus OmniScan SX相控陣探傷儀采集
在進(jìn)行手動(dòng)、單線或光柵編碼掃查時(shí)，OmniScan SX可以方便地對(duì)檢測參數(shù)進(jìn)行配置。采集數(shù)據(jù)可以用戶選擇的視圖形式實(shí)時(shí)顯示在屏幕上，用戶還可以將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于具有熱插拔功能的SD卡或USB 2.0設(shè)備中。
智能布局
全屏模式，可更好地顯示缺陷
可以使用不同的閘門組合對(duì)同步和測量進(jìn)行處理

奧林巴斯Olympus OmniScan SX相控陣探傷儀數(shù)據(jù)分析和報(bào)告制作
數(shù)據(jù)光標(biāo)、參考光標(biāo)與測量光標(biāo)用于缺陷的定量。
擴(kuò)展的數(shù)據(jù)庫、預(yù)先定義的三角學(xué)參數(shù)列表、缺陷相對(duì)于軸的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)、體積位置信息、基于規(guī)范的合格標(biāo)準(zhǔn)、腐蝕成像的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)等等。
在進(jìn)行離線閘門重新定位的操作中，視圖可被鏈接在一起，進(jìn)行交互式分析和自動(dòng)更新。
優(yōu)化的預(yù)置布局可對(duì)缺陷的長度、深度和高度進(jìn)行快速方便的定量。
無論您想在計(jì)算機(jī)中完成數(shù)據(jù)分析，還是希望您的OmniScan儀器采集完數(shù)據(jù)后繼續(xù)在現(xiàn)場進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，OmniPC或TomoView都是*理想的與OmniScan配套使用的軟件工具。

用途廣泛的新型Omniscan SX儀器的出現(xiàn)進(jìn)一步壯大了Olympus業(yè)已齊備的**型市場解決方案庫，開發(fā)所有這些解決方案的宗旨都是簡化檢測工作流程，從整體上提高生產(chǎn)效率。

相控陣焊縫檢測
OmniScan PA是Olympus公司為石油和天然氣工業(yè)開發(fā)的手動(dòng)和半自動(dòng)相控陣焊縫檢測解決方案的核心。這些系統(tǒng)不僅可用于符合ASME、API及其它規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)的檢測，而且還具有高速探測、便于缺陷指示判讀的特性

腐蝕成像和復(fù)合材料檢測
隨著OmniScan SX的出現(xiàn)，零度檢測變得更為簡便易行。在腐蝕或復(fù)合材料的檢測應(yīng)用中，Olympus可提供探測材料中異常現(xiàn)象或壁厚損失的經(jīng)過實(shí)地驗(yàn)證的解決方案。

TOFD焊縫檢測
在主要探測焊縫缺陷的應(yīng)用中，TOFD是一種簡便易行、效率極高的檢測方法。這種方法不僅可以快速定量在焊縫體積中發(fā)現(xiàn)的缺陷（焊縫通常是制造缺陷高發(fā)的地帶），且其性價(jià)比極高。

組件檢測
組件檢測利用超聲技術(shù)，可以探測到裂縫、壁厚減薄以及其它各種缺陷。OmniScan SX既可以使用角度聲束，也可以使用線性零度聲束，因此成為完成這類單組檢測應(yīng)用的一個(gè)性價(jià)比極高的解決方案。