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粗糙度測(cè)試儀
日期：2024-09-20 13:30
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摘要：
粗糙度測(cè)試儀
粗糙度測(cè)試儀用于計(jì)量室及生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)對(duì)工作表面粗糙度進(jìn)行高精度的測(cè)量，粗糙度測(cè)試儀采用接觸式方式，能迅速**直觀地測(cè)量出表面粗糙度值，儀器采用電感式探頭，測(cè)量誤差小，重復(fù)性好，鉆石觸針經(jīng)久耐用，配置16位單片微處理器，智能化程度高，使用特別方便，能迅速讀出Ra,Ry,Rz等參數(shù)，并可根據(jù)需要打印出全部測(cè)試數(shù)據(jù)及輪廓圖形，LCD能顯示測(cè)量過程中的觸針位置，避免人為造成的誤差。